Большая Энциклопедия Нефти и Газа. Тонкая прозрачная пленка
Тонкая прозрачная пленка - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Тонкая прозрачная пленка
Cтраница 1
Тонкая прозрачная пленка со светочувствительным слоем, служащая для фотографических или кинематографических съемок ( спец. [1]
Тонкие прозрачные пленки ( толщиной - 0 3 - j - l мкм) на поверхности кристалла влияют как на интенсивность, так и на форму спектра люминесценции вследствие интерференции как возбуждающего, так и вторичного излучения. Присутствие пленок не влияет, очевидно, лишь на время высвечивания люминесценции. [2]
Тонкие прозрачные пленки, получаемые химическими методами, могут быть образованы диэлектриками, полупроводниками, металлами, органическими и кремнийорганическими полимерными соединениями. Из неорганических соединений чаще всего используют окислы; сульфиды, селениды и нитриды. [3]
Тонкие прозрачные пленки совершенно необходимы при изготовлении различных тепловых приемников радиации, снабженных окнами для впуска ИК радиации. Окна эти обычно также изготовляют из материалов, требующих снижения отражения и увеличения пропускания ИК излучения. [4]
Тонкая, прозрачная пленка с нанесенным светочувствит. [5]
Тонкие прозрачные пленки полистирола отличаются высокой химической устойчивостью к воде и водяным парам. [7]
Получение тонких прозрачных пленок на поверхности изделий из стекла; кварца, кристаллов, полупроводниковых материалов и металлов осуществляется различными методами. Их многообразие прежде всего объясняется-различием химической природы исходных пленкообразующих веществ, материала тех изделий, на которые должны быть нанесены пленки, а также различным назначением пленок и разнообразными условиями их использования. [8]
Основное назначение тонких прозрачных пленок - изменение химических, электрических или оптических свойств поверхности материалов, из которых сделано изделие. В современной технике тонкие пленки являются совершенно необходимыми и неотъемлемыми элементами, без которых невозможны некоторые полупроводниковые приборы, электронные и радиотехнические изделия. [9]
Химическая устойчивость тонких прозрачных пленок определяется способностью их противостоять разрушающему действию воды, водяных паров и разнообразных химических реагентов. [10]
Показатель преломления тонких прозрачных пленок изменяется с изменением волн падающего на их поверхность излучения - с увеличением ее уменьшается, а с уменьшением - возрастает; особенно резкое увеличение наблюдается в области начала поглощения пленкой лучистой энергии определенной длины волнь. [12]
Определение толщины тонких прозрачных пленок на поверхности стекла, кристаллов и полупроводниковых материалов может осуществляться различными методами. [13]
Другой областью применения тонких прозрачных пленок в оптическом приборостроении является получение отражателей, светоделителей и светофильтров. Прозрачные пленки с показателем преломления большим, чем у стекла ( или другой подложки), повышают отражательную способность стекла. Применение пленок, различных по химическому составу и оптическим характеристикам, дает возможность использовать обычное стекло как светоделитель с различным соотношением коэффициентов пропускания и отражения. [14]
Химические методы получения тонких прозрачных пленок значительно более многочисленны и разнообразны. [15]
Страницы: 1 2 3 4
www.ngpedia.ru
Китай Прозрачная Тонкая Пленка, Китай Прозрачная Тонкая Пленка список товаров на ru.Made-in-China.com
Цена FOB для Справки: US $ 38 / шт. MOQ: 50шт.
- Упаковка: Platic with Outer Box
- Стандарт: Rohs, SGS
- Торговая Марка: Gokai
- Происхождение: Shanghai, China
- Код ТН ВЭД: 3920510000
- Производительность: 3000tons Per Month
-
Поставщики с проверенными бизнес-лицензиями
Поставщики, проверенные инспекционными службами
Shanghai Gokai Industry Co., Ltd. - провинция: Shanghai, China
Тонкая прозрачная пленка - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Тонкая прозрачная пленка
Cтраница 2
Поляризационный светофильтр имеет тонкую прозрачную пленку с закрепленными очень мелкими кристаллами поляризующего вещества, ориентированными в одном направлении. Пленку крепят между двумя круглыми защитными стеклами. Светофильтр имеет двойную оправу: внешняя необходима для установки светофильтра на объективе, а внутренняя - для поворота его вокруг оптической оси и установки в положение, при котором происходит выделение и избирательное пропускание световых волн в определенной плоскости и устранение бликов на изображении. [17]
Поляризационный светофильтр имеет тонкую прозрачную пленку с закрепленными очень мелкими кристаллами поляризующего вещества, ориентированными в одном направлении. [19]
Иногда линзы покрывают тонкой прозрачной пленкой, чтобы ослабить отражение света. [20]
Получение на поверхности стекла тонких прозрачных пленок из растворов гидролизующихся соединений было впервые осуществлено по предложению акад. [21]
Метод основан на получении тонкой прозрачной пленки коллодия с отпечатками устьиц. [22]
Оптическая часть сетчатки представляет собой тонкую прозрачную пленку, крепко соединенную с подлежащими тканями в двух местах - у зубчатого края и вокруг зрительного нерва. [23]
Высохнув, она покрывает рисунок тонкой прозрачной пленкой. Получаются так называемые моющиеся обои. Как только вам покажется, что их рисунок немножко потускнел от пыли, вы берете теплую воду, кусок мыла, тряпку и просто моете их с мылом. [24]
Новое назначение в последние годы приобретают тонкие прозрачные пленки в строительстве. [25]
Выбор веществ, подходящих для получения тонких прозрачных пленок, пригодных для изготовления окон кювет или фильтров, определяется их коэффициентом поглощения з исследуемой области, а также механическими свойствами материала. Используются пленки толщиной в сотни и тысячи ангстрем. [26]
Литературные данные по химическим методам получения тонких прозрачных пленок весьма ограничены и, кроме того, рассеяны в журналах различных научных и технических направлений. Вместе с тем, современное приборостроение требует особо прочных, твердых, термостойких и стабильных пленок в различных условиях эксплуатации. Ввиду этого особый интерес представляет возможность получения пленок из наиболее тугоплавких, химически инертных соединений; такими соединениями являются окислы, нитриды, карбиды, сульфиды и селениды некоторых элементов. [27]
В парниках и теплицах вместо стекол применяется тонкая прозрачная пленка из синтетических смол. Новые парники н & только дешевле ( не нужно рам), но они и лучше сохраняют тепло. Например, огурцы в них можно сеять на 15 - 20 дней раньше, чем в обычных парниках. [28]
В литературе приводятся таблицы с описанием цветов тонких прозрачных пленок ( табл. 8), пользуясь которыми можно судить ( путем сопоставления) о толщине слоя прозрачного покрытия. Этот метод субъективен и поэтому неточен; как указывают авторы, точнее 10 % определить толщину невозможно. [29]
Все эти явления обусловлены интерференцией света в тонких прозрачных пленках, которая возникает в результате наложения когерентных волн, отражающихся от верхней и нижней поверхностей пленки. [30]
Страницы: 1 2 3 4
www.ngpedia.ru
Определение толщины тонких оптически прозрачных пленок SnО2 конвертным методом Текст научной статьи по специальности «Физика»
УДК 535.243
DOI 10.21685/2072-3059-2016-2-8
В. И. Кондрашин
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ТОНКИХ ОПТИЧЕСКИ ПРОЗРАЧНЫХ ПЛЕНОК SnO2 КОНВЕРТНЫМ МЕТОДОМ
Аннотация.
Актуальность и цели. Прозрачные проводящие покрытия на основе тонких пленок оксидов металлов широко используются в различных оптоэлектронных приборах и устройствах. Толщина пленок играет важную роль в формировании их электрических и оптических свойств, поэтому при получении требуется постоянно измерять этот параметр. Однако проводить измерения толщины тонких прозрачных пленок традиционными методами затруднительно вследствие определенных ограничений. Решить данную задачу позволяет конвертный метод, заключающийся в анализе распределения интерференционных экстремумов в спектрах пропускания тонких пленок. Целью работы является определение толщины пленок диоксида олова конвертным методом, его точности и условий применения.
Материалы и методы. Тонкие пленки диоксида олова получены методом спрей-пиролиза на стеклянных и кремниевых подложках. Измерены спектры пропускания пленок в области длин волн X = (320-1000) нм. В работе представлена методика определения толщины прозрачных пленок конвертным методом. Толщина также измерена с помощью эллипсометрии и электронной микроскопии. Проведен сравнительный анализ полученных результатов.
Результаты. Сравнительный анализ продемонстрировал, что точность конвертного метода снижается с уменьшением толщины пленки. В результате проведенной работы выявлены недостатки конвертного метода и условия его применения.
Выводы. Конвертный метод следует применять только к спектрам пропускания, демонстрирующим интерференционные полосы, при условии слабого поглощения электромагнитного излучения тонкой пленкой и полностью прозрачной подложки.
Ключевые слова: прозрачные пленки, спрей-пиролиз, толщина, конвертный метод, спектры пропускания, интерференционные экстремумы, конвертные кривые, интерполяция.
V. I. Kondrashin
DETERMINATION OF SnO2 THIN OPTICALLY TRANSPARENT FILMS' THICKNESS BY THE ENVELOPE METHOD
Abstract.
Background. Transparent conductive coatings based on thin films of metal oxides are widely used in various optoelectronic devices. Films' thickness plays an important role in formation of their electrical and optical properties, therefore this parameter must be measured constantly. However, measuring thickness of thin transparent films using traditional methods is difficult to complete due to certain restrictions. This problem is solved by the envelope method, which consists in analysis of interference extremes distribution in transmission spectra of thin films. The purpose of the work is to determine thickness of tin dioxide films by the envelope method, its accuracy and application conditions.
Materials and methods. Tin dioxide thin films were obtained by spray pyrolysis on glass and silicon substrates. The transmission spectra of films were measured in the wavelength X = (320-1000) nm. The paper presents a technique for determining transparent films thickness by the envelope method. The thickness was also measured using electron microscopy and ellipsometry. The comparative analysis of obtained results was performed.
Results. The comparative analysis has shown that the accuracy of the envelope method reduces with a decreasing film thickness. Disadvantages of the envelope method and conditions of its application are revealed as a result of this work.
Conclusions. The envelope method should be applied only to transmission spectra, demonstrating the interference fringes, provided that a thin film has weak-absorption of electromagnetic radiation and a substrate is fully transparent.
Key words: transparent films, spray pyrolysis, thickness, envelope method, transmission spectra, interference extremes, envelope curves, interpolation.
Введение
На сегодня в различных оптоэлектронных приборах и устройствах [1, 2] активно используются прозрачные проводящие покрытия (ППП) на основе тонких пленок оксидов металлов (In2O3, ZnO, SnO2 и др.). Подобные материалы обладают уникальной комбинацией следующих свойств: высокой электропроводности и хорошей оптической прозрачности в видимой области электромагнитного спектра. Оба этих параметра сильно зависят от толщины пленок, типа и концентрации примеси. Например, поверхностное сопротивление тонких пленок уменьшается при увеличении толщины [3, 4]. Поэтому, изменяя условия получения каким-либо методом, можно добиться улучшения электрических и оптических свойств ППП.
Среди существующих способов определения толщины тонких пленок, таких как эллипсометрия, интерферометрия, профилометрия, электронная и атомно-силовая микроскопия и др., чаще всего применяются первые два [5]. Однако проводить измерения толщины тонких прозрачных пленок этими традиционными методами затруднительно вследствие определенных ограничений. Например, принцип работы спектральных эллипсометров основан на том, что свет должен отражаться на границе раздела пленка-подложка и менять поляризацию при прохождении пленки. Следовательно, в случае стеклянной подложки, толщина которой менее 8-10 мм, очень трудно исключить попадание в анализатор луча, отраженного от нижней плоскости подложки. Поэтому в эллипсометрии необходимо использовать образцы пленок, нанесенных на полированную отражающую подложку (например, монокристаллический кремний).
При измерении толщины прозрачных пленок с помощью интерференционных микроскопов также может возникнуть ряд проблем. В частности, затруднение вызывает анализ интерференционных полос и определение порядка интерференции по разную сторону ступеньки, что приводит к получению неверных значений толщины пленки. Для точного измерения толщины в этом случае требуются дополнительные технологические решения, например нанесение тонкой металлической пленки [6].
Одним из оптимальных способов определения толщины тонких прозрачных пленок является анализ распределения экстремумов в спектрах оптического пропускания, вызванные интерференцией электромагнитных волн
в плоскопараллельном слое (пленке) в случае использования монохроматического источника излучения [7]. На сегодня имеется несколько методик, построенных на данном явлении [8-10]. На основе одной из них разработан конвертный метод [11, 12], который помимо толщины позволяет также найти оптические свойства пленок: показатель преломления, коэффициент поглощения, коэффициент экстинкции [13].
Данная работа заключалась в определении толщины пленок диоксида олова (8п02) конвертным методом и сравнительном анализе полученных результатов со значениями, измеренными с помощью других методов.
1. Экспериментальная часть
Пленки 8и02 получены с помощью метода спрей-пиролиза, который является на сегодня одним из наиболее перспективных способов нанесения ППП на подложки большой площади. Экспериментальная установка, которая разработана для реализации данного метода, подробно представлена в работе [14].
В качестве подложек использовались натриево-кальциево-силикатные стекла и кремниевые пластины. Подложки предварительно очищались с помощью ультразвуковой обработки в ацетоне, этаноле и дистиллированной воде. Нанесение пленок 8и02 проводилось из растворов, содержащих тетра-хлорид пентагидрат олова (8пС14 ■ 5Н20) с молярной концентрацией См и растворитель — этанол. Для этого растворы с разными объемами Уг распылялись на подложки обоих типов, нагретых до температуры Т5. Распыление происходило с помощью сжатого воздуха, подаваемого в пневматический распылитель под давлением р. Расстояние между распылителем и подложками составляло Ь. В табл. 1 приведены значения См, Уг, Т5, р и Ь.
Таблица 1
Условия получения пленок SnO2
№ образца Vr, мл CM, моль/л Ts, °C P, бар L, мм
1 20
2 15 0,25 450 2 300
3 10
4 5
Для определения конвертным методом толщины пленок SnO2, нанесенных на стеклянные подложки, получены спектры пропускания с помощью спектрофотометра ПЭ-5300ВИ в области длин волн X = (320-1000) нм. Толщина пленок SnO2 на кремниевых подожках определялась такими методами, как эллипсометрия и электронная микроскопия. Для проведения измерений использовался спектроскопический эллипсометр SE850 в диапазоне X = (300-800) нм при угле падения 70° и сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Nova NanoSEM 450.
2. Результаты и их обсуждение
На рис. 1 изображены спектры пропускания пленок SnO2, нанесенных на стеклянные подложки при различных значениях объема распыляемого
раствора. Видно, что спектры имеют осциллирующий характер, который обусловлен интерференционными явлениями. Коэффициенты пропускания (Т) уменьшаются при увеличении объема раствора, поэтому положение интерференционных максимумов и минимумов зависит от толщины пленок.
Рис. 1. Спектры пропускания образцов № 1-4
В связи с наличием на представленных спектрах пропускания интерференционных полос толщину пленок можно найти с помощью конвертного метода. Его основой являются конвертные кривые Тм и Тт (рис. 2), которые строятся посредством интерполяции спектра пропускания между экспериментальными точками, соответствующими положению интерференционных максимумов и минимумов. В зависимости от количества экстремумов для построения конвертных кривых можно применять линейную интерполяцию или интерполяцию сплайнами. При этом оптимального способа интерполяции сплайнами не существует. Например, исследования в работе [15] показывают, что более высокая степень сплайна приводит к увеличению погрешности измерений толщины пленок. Вследствие этого рекомендуется использовать линейный сплайн. Однако в работе [16] авторы считают, что наиболее предпочтительным способом является параболическая интерполяция. Поэтому для построения конвертных кривых выбор способа интерполяции всегда является произвольным.
Получив конвертные кривые, можно найти спектральную зависимость показателя преломления п пленок (дисперсию света), используя следующее уравнение:
n =
1
N + (N2 -n2)2
(1)
где
N = 2nsTM Tm
TMTm
+
ns +1
(2)
0.85
Ч <и
Я н о
—.... ------
-
Tm
r-V"
»_ ■■■■■ .....
0.65
320 360 400 440 480 520 560 600 640 680 720 760 800 840
X, НМ
920 960 1000
Рис. 2. Спектр пропускания образца № 1 вместе с конвертными кривыми
В формулах (1) и (2) п5 — показатель преломления подложки, который определяется из выражения
nS = T" + а Г2 -1
ts ы
(3)
где Т5 - коэффициент пропускания подложки. Для стеклянных подложек, использованных в данной работе, Т5 = 0,92. Таким образом, из уравнения (3) получается, что п5 = 1,513.
В качестве примера на рис. 3 представлен результат расчета показателя преломления для образца № 1, а также для сравнения изображен график из справочника [17].
\ \
\ ч
\
\ 2
\ 1 ..... ..... ..... .....
2.1
1.95
1.9
320 360 400 440 480 520 560 600 640 680 720 760 800 840 880
X, НМ
Рис. 3. Спектральная зависимость показателя преломления: 1 - образец № 1; 2 - 8и02 [17]
920 960 1000
Для определения толщины пленок й необходимо воспользоваться следующим уравнением:
d = A^2 ч , (4)
2 ((2 - «2^1)
где и Х2 — длины волн, которые соответствуют соседним экстремальным точкам на спектре пропускания, A = 1 для двух соседних экстремумов одного типа (max — max, min — min) и A = 0,5 для двух соседних экстремумов противоположного типа (max — min, min — max).
В табл. 2 приведены средние значения толщины образцов № 1—4, рассчитанные по уравнению (4) для всех комбинаций экстремальных точек. На основании данных, представленных в табл. 1 и 2, можно заметить, что с увеличением объема распыляемого раствора толщина пленок возрастает.
Таблица 2
Толщина пленок SnO2 при разных методах исследования
№ образца d1, нм (на стекле, спектрофотомерия) d2, нм (на кремнии, эллипсометрия) d3, нм (на кремнии, СЭМ)
1 337 335 297
2 230 218 243
3 173 162 152
4 150 135 148
Результаты сравнивались со средними значениями, измеренными с помощью других методов (табл. 2). Самым точным из них является эллипсо-метрия. Максимальное отклонение между и й2 среди всех образцов составило 15 нм (образец № 4), минимальное — 2 нм (образец № 1). Относительная погрешность измерений равна 11 и 0,6 % соответственно. Таким образом, точность конвертного метода понижается с уменьшением толщины пленки, так как в этом случае интерференционные экстремумы отдаляются дальше друг от друга и интерполяция между этими двумя точками становится более трудной.
На рис. 4 и 5 изображены снимки образцов № 1 и 4, полученные на сканирующем электронном микроскопе. Видно, что пленки являются поликристаллическими и состоят из случайно ориентированных кристаллитов, размеры которых становятся больше при увеличении объема раствора. Образцы имеют шероховатую и однородную поверхность (рис. 4,а и 5,а).
С помощью электронной микроскопии толщина пленок измерялась на сколах образцов. Для этого были получены изображения их поперечного сечения (рис. 4,б и 5,б). Наблюдается неоднородность пленок по толщине, которая вызвана, во-первых, способом распыления, использованным в данной работе; во-вторых, грубой оценкой толщины, заключающейся в измерении расстояния между точками на снимке в программном обеспечении СЭМ. Таким образом, результаты электронной микроскопии не позволяют оценить точность конвертного метода.
Заключение
Исследования, проведенные в рамках данной работы, показали, что конвертный метод является весьма эффективным и простым способом определения толщины тонких оптически прозрачных пленок. Однако выявлены следующие недостатки метода:
1) не существует оптимального способа интерполяции сплайнами для построения конвертных кривых между интерференционными экстремумами;
2) точность метода снижается с уменьшением толщины пленки из-за удаления интерференционных экстремумов друг от друга;
3) метод не выполняется, если поглощение в пленке настолько велико, что интерференционные полосы на спектрах пропускания не наблюдаются.
а) б)
Рис. 4. СЭМ-изображения поверхности (а) и поперечного сечения (б) образца № 1 на кремнии
а) б)
Рис. 5. СЭМ-изображения поверхности (а) и поперечного сечения (б) образца № 4 на кремнии
Таким образом, конвертный метод следует применять к любому спектру пропускания, демонстрирующему интерференционные полосы, при условии слабого поглощения тонкой пленкой и полностью прозрачной подложки, толщина которой намного больше толщины пленки.
Автор выражает огромную благодарность сотрудникам МИРЭА К. А. Воротилову и Д. С. Серегину за помощь в исследованиях.
Список литературы
1. Прозрачные проводящие покрытия на основе оксидов металлов. Технологии получения, свойства и области применения / В. И. Кондрашин, Н. О. Рыбакова, С. В. Ракша, А. А. Шамин, К. О. Николаев // Молодой ученый. - 2015. - № 13. -С. 128-132.
2. Liu, H. Transparent conducting oxides for electrode applications in light emitting and absorbing devices / H. Liu, V. Avrutin, N. Izyumskaya, U. Ozgur // Superlattices Mi-crostruct. - 2010. - Vol. 48, № 5. - P. 458-484.
3. Tatar, D. The relationship between the doping levels and some physical properties of SnO2: F thin films spray-deposited on optical glass / D. Tatar, B. Duzgun // Pramana -J. Phys. - 2012. - Vol. 79, № 1. - P. 137-150.
4. Physical properties of sprayed antimony doped tin oxide thin films: The role of thickness / A. R. Babar, S. S. Shinde, A. V. Moholkar, C. H. Bhosale, J. H. Kim, K. Y. Raj-pure // Journal of Semiconductors. - 2011. - Vol. 32, № 5. - P. 053001-1 - 053001-8.
5. Ремез, Л. М. Обзор методов измерения толщин термоэлектрических нано-пленок / Л. М. Ремез // Молодежный научно-технический вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. - 2014. - № 5. - URL: http://sntbul.bmstu.ru/doc/721985.html
6. Влияние ионной обработки в процессе ВЧ магнетронного распыления на толщину и показатель преломления ITO пленок / Е. А. Зайцева, Р. М. Закирова, П. Н. Крылов, К. С. Лебедев, И. В. Федотова // Вестник Удмуртского университета. - 2012. -Вып. 2 - C. 26-30.
7. Нагибина, Н. Б. Интерференция и дифракция света / Н. Б. Нагибина. - Л. : Машиностроение, 1985. - 332 с.
8. Формирование ультратонких пленок Nb2O5 на подложках из кварца / С. В. Зайцев, Ю. В. Герасименко, С. Н. Салтыков, Д. А. Ховив, А. М. Ховив // Неорганические материалы. - 2011. - Т. 47, № 4. - С. 468-472.
9. Кротова, Г. Д. Технология материалов и изделий электронной техники : лаб. практикум / Г. Д. Кротова, В. Ю. Дубровин, В. А. Титов, Т. Г. Шикова. - Иваново : ГОУ ВПО Иван. гос. хим.-технол. ун-т., 2007. - 156 с.
10. Kerkache, L. Physical properties of RF sputtered ITO thin films and annealing effect / L. Kerkache, A. Layadi, E. Dogheche, D. Remiens // J. Phys. D: Appl. Phys. -2006. - № 39. - P. 184-189.
11. Manifacier, J. C. A simple method for the determination of the optical constants n, h and the thickness of a weakly absorbing thin film / J. C. Manifacier, J. Gasiot, J. P. Fillard // J. Phys. E: Sci. Instrum. - 1976. - Vol. 9. - P. 1002-1004.
12. Swanepoel, R. Determination of the thickness and optical constants of amorphous silicon / R. Swanepoel // J. Phys. E: Sci. Instrum. - 1983. - Vol. 16. - P. 1214-1222.
13. Особенности оптических и электрических свойств поликристаллических пленок CdTe, изготовленных методом термического испарения / В. В. Брус, М. Н. Соло-ван, Э. В. Майструк, И. П. Козярский, П. Д. Марьянчук, К. С. Ульяницкий, J. Rappich // Физика твердого тела. - 2014. - Т. 56, вып. 10. - С. 1886-1890.
14. Кондрашин, В. И. Разработка лабораторного оборудования для получения и исследования материалов микро- и наноэлектроники / В. И. Кондрашин, С. В. Ракша, М. Ю. Шикин // Молодой ученый. - 2014. - № 6. - С. 169-173.
15. Stockett, M. Optical properties of thin transparent conducting oxide films on glass for photovoltaic applications. - URL: http://new.oberlin.edu/arts-and-sciences/ departments/physics/documents/projects/honors/Stockett_thesis.pdf
16. Poelman, D. Methods for the determination of the optical constants of thin films from single transmission measurements: a critical review / D. Poelman, P. F. Smet // J. Phys. D: Appl. Phys. - 2003. - Vol. 36. - P. 1850-1857.
17. Аскоченский, А. А. Оптические материалы для инфракрасной техники / А. А. Аскоченский. - М. : Наука, 1995. - 310 с.
References
1. Kondrashin V. I., Rybakova N. O., Raksha S. V., Shamin A. A., Nikolaev K. O. Mo-lodoy uchenyy [The young scientist]. 2015, no. 13, pp. 128-132.
2. Liu H., Avrutin V., Izyumskaya N., Ozgur U. Superlattices Microstruct. 2010, vol. 48, no. 5, pp. 458-484.
3. Tatar D., Duzgun B. Pramana - J. Phys. 2012, vol. 79, no. 1, pp. 137-150.
4. Babar A. R., Shinde S. S., Moholkar A. V., Bhosale C. H., Kim J. H., Rajpure K. Y. Journal of Semiconductors. 2011, vol. 32, no. 5, pp. 053001-1 - 053001-8.
5. Remez L. M. Molodezhnyy nauchno-tekhnicheskiy vestnik. MGTU im. N. E. Baumana [Youth scientific technical bulletin. Bauman Moscow State Technical University]. 2014, no. 5. Available at: http://sntbul.bmstu.ru/doc/721985.html
6. Zaytseva E. A., Zakirova R. M., Krylov P. N., Lebedev K. S., Fedotova I. V. Vestnik Udmurtskogo universiteta [Bulletin of Udmurtia University]. 2012, iss. 2, pp. 26-30.
7. Nagibina N. B. Interferentsiya i difraktsiya sveta [Light interference and diffraction]. Leningrad: Mashinostroenie, 1985, 332 p.
8. Zaytsev S. V., Gerasimenko Yu. V., Saltykov S. N., Khoviv D. A., Khoviv A. M. Neor-ganicheskie materialy [Non-organic materials]. 2011, vol. 47, no. 4, pp. 468-472.
9. Krotova G. D., Dubrovin V. Yu., Titov V. A., Shikova T. G. Tekhnologiya materialov i izdeliy elektronnoy tekhniki: lab. praktikum [Technology of materials and devices of electronic engineering: laboratory work]. Ivanovo: GOU VPO Ivan. gos. khim.-tekhnol. un-t., 2007, 156 p.
10. Kerkache L., Layadi A., Dogheche E., Remiens D. J. Phys. D: Appl. Phys. 2006, no. 39, pp. 184-189.
11. Manifacier J. C., Gasiot J., Fillard J. P. J. Phys. E: Sci. Instrum. 1976, vol. 9, pp. 10021004.
12. Swanepoel R. J. Phys. E: Sci. Instrum. 1983, vol. 16, pp. 1214-1222.
13. Brus V. V., Solovan M. N., Maystruk E. V., Kozyarskiy I. P., Mar'yanchuk P. D., Ul'yanitskiy K. S., Rappich J. Fizika tverdogo tela [Solid state physics]. 2014, vol. 56, iss. 10, pp. 1886-1890.
14. Kondrashin V. I., Raksha S. V., Shikin M. Yu. Molodoy uchenyy [The young scientist]. 2014, no. 6, pp. 169-173.
15. Stockett M. Optical properties of thin transparent conducting oxide films on glass for photovoltaic applications. Available at: http://new.oberlin.edu/arts-and-sciences/ departments/physics/documents/projects/honors/Stockett_thesis.pdf
16. Poelman D., Smet P. F. J. Phys. D: Appl. Phys. 2003, vol. 36, pp. 1850-1857.
17. Askochenskiy A. A. Opticheskie materialy dlya infrakrasnoy tekhniki [Optical materials for infrared equipment]. Moscow: Nauka, 1995, 310 p.
Кондрашин Владислав Игоревич аспирант, Пензенский государственный университет (Россия, г. Пенза, ул. Красная, 40)
E-mail: [email protected]
Kondrashin Vladislav Igorevich
Postgraduate student, Penza State University (40 Krasnaya street, Penza, Russia)
УДК 535.243 Кондрашин, В. И.
Определение толщины тонких оптически прозрачных пленок SnO2 конвертным методом / В. И. Кондрашин// Известия высших учебных заведений. Поволжский регион. Технические науки. - 2016. - № 2 (38). - С. 93101. DOI 10.21685/2072-3059-2016-2-8
cyberleninka.ru
Типовой расчет по физике | Вариант 30
ТИПОВОЙ РАСЧЁТ ПО ОПТИКЕ И АТОМНОЙ ФИЗИКЕ
Задача 1. Интерференция света.
30. На плоской стеклянной поверхности образована тонкая прозрачная плёнка толщиной d=0,396 мкм. Какую окраску примет плёнка при освещении её белым светом, падающим под углом i=30° ? Показатель преломления плёнки n=1,324; показатель преломления стекла n’=1,753.
Задача 2.Дифракция света.
30. На круглое отверстие радиуса r=0,7 мм падает нормально параллельный пучок света с длиной волны λ=550 нм. На пути пучка, прошедшего через отверстие, помещают экран на расстоянии b=90 см от отверстия. Тёмное или светлое пятно будет наблюдаться в центре дифракционной картины? Найти число зон Френеля, которое открывает отверстие.
Задача 3.Поляризация света.Взаимодействие света с веществом.
30. Естественный свет падает на систему из двух идеальных поляризаторов. Вначале угол между главными плоскостями поляризатора и анализатора был равен θ. Затем анализатор повернули на 90°, при этом интенсивность прошедшего света уменьшилась в k=3 раза. Найти угол θ.
Задача 4.Квантовые свойства света. Волны де Бройля.Соотношения неопределённостей.
30. Фотоэффект происходит под действием света с длиной волны λ=500 нм. Анодное напряжение U=5 В. Работа выхода фотокатода A=2 эВ. Найти минимальную дебройлевскую длину волны электронов вблизи анода.
Задача 5.Некоторые квантовомеханические системы.Тепловое излучение.
30. Во сколько раз изменилась бы энергия, излучаемая Солнцем, если бы температура половины поверхности Солнца увеличилась на ΔT=100 К, а температура второй половины на столько же уменьшилась? Температуру поверхности Солнца принять равной T=6∙103 К.
Уменьшенную копию первой страницы решения вы можете посмотреть ниже:
Формат файла PDF (в архиве ZIP) 5 задач, Вариант 30
Список решенных вариантов данного типового расчета вы можете посмотреть тут.
Николай Декабрь 15th, 2014
Posted In: Атомная физика, НИУ МЭИ, Оптика, Платные работы, Типовой расчет, Физика
Метки: Вариант 30
www.zachet.ru
OCSiAl
Прозрачные проводящие пленки (Transparent Conductive Films, TCF) используются в качестве прозрачных электродов при производстве тачскринов, LCD дисплеев, верхних электродов в солнечных батареях и органических светодиодах.
Они представляют собой двумерные проводники электрического тока в виде прозрачной полимерной подложки (50-150 мкм), на которую нанесен тонкий (менее 100 нм) слой проводящего материала. Обычно, в качестве проводника используют оксиды металлов (InO 2:Sn, SnO 2:F), нановолокна серебра, металлическую микросетку (медь, серебро, золото), графен, проводящие полимеры (PEDOT:PSS) или углеродные нанотрубки.
Ключевые свойства
Важнейшими параметрами для TCF являются показатели поверхностного сопротивления (Rs, sheet resistance) и светопропускания (T, transmittance). Самый простой способ снижения сопротивления – увеличение толщины проводящего слоя, приводит к снижению светопропускания. Поэтому в большинстве применений находится баланс между сопротивлением и светопропусканием прозрачной проводящей пленки.
Дополнительными важными свойствами TCF являются отсутствие оптических помех (дымки), устойчивость к механическим воздействиям, прозрачность в ближнем инфракрасном диапазоне.
OCSiAl разрабатывает технологию создания TCF с проводящим слоем на основе графеновых трубок. Использование TUBALL® в качестве материала проводящего слоя позволило добиться кардинального улучшения качества проводящих пленок.
Прозрачные проводящие пленки powered by Tuball®
Уже получены образцы прозрачных проводящих пленок с сопротивлением ~110 Ом/кв, обладающие светопропусканием на уровне 90%. Решающим преимуществом наших TCF является высокая производительность технологии нанесения проводящего слоя, низкая себестоимость и отличная устойчивость к механическим воздействиям. Если прибавить к этому отсутствие оптических дефектов пленок и стабильное светопропускание как в видимом, так и в ближнем инфракрасном диапазоне, свойственное углеродным трубкам, то мы получим превосходный универсальный прозрачный электрод.
В настоящее время разрабатывается жидкое проводящее покрытие TUBALL® INK, подходящее для производства прозрачных электродов на различном оборудовании.
Прозрачные проводящие пленки на основе TUBALL® обладают рядом ключевых преимуществ:
- Технологичность массового производства. Производство без использования вакуумного напыления, с малым количеством потерь при нанесении проводящего слоя.
- Возможность структурного нанесения проводящего слоя, используя раствор TUBALL® INK.
- Отличная адгезия проводящего покрытия к большинству типов подложек.
- Устойчивость параметров пленки при механических воздействиях и изгибе.
Применение прозрачных проводящих пленок
| Резистивный touchscreen | 300 - 600 |
| Емкостной touchscreen | 100 - 300 |
| Гибкие LCD-дисплеи | 50 - 100 |
| Гибкие солнечные батареи | 5 - 10 |
| Большие гибкие дисплеи | 0,1 - 5 |
| Технология | Стоимость TCF, $/m² |
| TUBALL® | 10 |
| ITO | 30 |
| Ag NW | 60 |
| Graphene monolayer | 120 |
Появление первых коммерческих пленок из углеродных нанотрубок состоялось в 2014 году. OCSiAl готов производить TCF для touchscreen в промышленных масштабах.
Прозрачный нагреватель: OCSiAl создал прозрачную нагревательную пленку с мощностью нагрева до 2кВт/кв.м.
Прогноз рынка прозрачных электродов
К 2019 году прогнозируется стабильный рост рынка до отметки в $5 млрд. К 2018 доля пленок из CNT составит четверть объема всего рынка, что в денежном эквиваленте составит $1.4 млрд.
Все вопросы, связанные с TUBALL® INK вы можете задать управляющему директору OCSiAl Алексею Минакову [email protected]
ocsial.com
Тонкая прозрачная пленка - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Тонкая прозрачная пленка
Cтраница 3
В частности, с успехом используется метод нанесения тонких прозрачных пленок на преломляющие поверхности линз, что су щественно снижает коэффициент отражения. Таким образом, для сложных объективов, состоящих, например, из восьми преломляющих поверхностей, при просветлении удается снизить потери из-за отражений почти наполовину. [32]
Стойкость против тускнения может быть также улучшена при помощи тонких прозрачных пленок из влагосодержащих окислов бериллия или алюминия. Катодное осаждение при рН, величина которого лежит между рН образования основного сульфата бериллия BeSO4 Be ( ОН) 2 и рН выпадения гидроокиси, позволяет получить защитные пленки, обладающие хорошим сцеплением. Некоторые исследователи отмечают, однако, ухудшение при этом цвета и блеска серебряных сплавов. [33]
Перед работой пасту наносят на поверхность кожи до образования тонкой прозрачной пленки, благодаря которой кожа не смачивается растворами. Пасту смывают горячей шщ теплой водой с мылом. [34]
При продавливании вискозы в осади-тельную ванну через узкие щели получаются тонкие прозрачные пленки целлофана. Большие количества его расходуются для обертки пищевых и парфюмерных изделий. [36]
При продавливании вискозы в осади-тельную ванну через узкие щели получают тонкие прозрачные пленки целлулоида. Основное его назначение - оберточный материал для кондитерских, пищевых, лекарственных и других изделий. [38]
При продавливании вискозы в осадительную ванну через узкие щели получают тонкие прозрачные пленки целлулоида. Основное его назначение - служить оберточным материалом для кондитерских, пищевых, лекарственных и других изделий. [39]
Спиртовые лаки наносят кистью или тампоном; при этом образуется очень тонкая и прозрачная пленка высокого блеска и глянца, но недостаточно водо - и морозостойкая. Для получения покрытия толщиной 20 - 30 мк требуется наносить большое количество слоев. Длительность нанесения спиртовых лаков и недостаточная их прочность являются причиной их ограниченного потребления. [40]
Многослойные диэлектрические покрытия р1 - 01 ] представляют собой ряд тонких прозрачных пленок, нанесенных слоями друг на друга, причем пленки с большим и малым показателем преломления чередуются между собой. Толщина пленок подпирается так, чтобы свет, отраженный от каждой поверхности раздела, при интерференции усиливался. [41]
Жидкие консервационные смазки ( масла) образуют на защищаемой поверхности тонкую прозрачную пленку, обеспечивающую защиту машин и оборудования на срок 3 - 10 лет. [42]
Теплоотражающее стекло представляет собой обычное листовое стекло, на которое нанесена тонкая прозрачная пленка чистых металлов или их окислов. [44]
После нанесения при температуре до 10 С и просушки Ardrox-3313 образует тонкую прозрачную пленку, отличающуюся высокой стойкостью к химически агрессивным средам. [45]
Страницы: 1 2 3 4
www.ngpedia.ru
