Пленка полиэтиленовая алматы: Пленки полиэтиленовые купить в Алматы.

Пленка защитная строительная цены, достаква по Алматы, Астана, Казахстан на POLAT.KZ

  • От дешевых к дорогим
  • От дорогих к дешевым
  • По популярности
  • По дате добавления
  • От А до Я
  • От Я до А

    • Код:88803



      Пленка защитная, 4 х 12,5 м, 7 мкм, полиэтиленовая Matrix

      1 507 T










    • Код:88827



      Пленка защитная, 4 х 5 м, 15 мкм, полиэтиленовая Matrix

      1 362 T









    • org/Product» data-position=»3″>

      Код:88802



      Пленка защитная, 4 х 5 м, 7 мкм, полиэтиленовая Matrix










    • Код:88828



      Пленка защитная, 4 х 12,5 м, 15 мкм, полиэтиленовая Matrix

      3 692 T

















    • org/Product» data-position=»6″>
























    • Код:88800



      Пленка защитная, 4 х 5 м, 6 мкм, полиэтиленовая Сибртех









    • org/Product» data-position=»10″>

      Код:88801



      Пленка защитная, 4 х 12,5 м, 6 мкм, полиэтиленовая Сибртех

      1 192 T










    • Код:88765



      Пленка полиэтиленовая для малярных и строительных работ, 3 х 4 м, 40 мкм Сибртех

      1 427 T










    • Код:88766



      Пленка полиэтиленовая для малярных и строительных работ, 3 х 6 м, 40 мкм Сибртех

      2 015 T









    • org/Product» data-position=»13″>

      Код:88767



      Пленка полиэтиленовая для малярных и строительных работ, 3 х 4 м, 100 мкм Сибртех

      2 551 T










    • Код:88768



      Пленка полиэтиленовая для малярных и строительных работ, 3 х 6 м, 100 мкм Сибртех

      3 625 T

















    • org/Product» data-position=»16″>

      Код:88758



      Пленочная дверь на молнии типа L,220 x 120 cm, с малярной лентой 2,5 см х 10 м Matrix

      4 885 T










    • Код:88757



      Пленочная дверь на молнии типа I, 220 x 120 cm, с малярной лентой 2,5 см х 10 м Matrix

      4 562 T


    Пленка для теплиц в Алматы

    1. Главная
    2. Каталог
    3. Теплицы
    4. Пленка для теплиц

    продуктов найдено:

    33

    по названию
    по популярности

    3*80м

    предзаказ

    8*50м

    предзаказ

    7*50м

    предзаказ

    6*50м

    предзаказ

    еще предложений: 1

    9*50м

    35 600
    под заказ

    12*50м

    45 500
    предзаказ

    еще предложений: 1

    9*50м

    41 000
    предзаказ

    10*50м

    45 000
    предзаказ

    еще предложений: 3

    8*50м

    предзаказ

    3*100м

    предзаказ

    3*100м

    предзаказ

    6*50м

    предзаказ

    еще предложений: 1

    12*50м

    51 000
    под заказ

    14*50м

    58 000
    предзаказ

    еще предложений: 2

    12*33м

    33 000
    предзаказ

    12*50м

    44 000
    предзаказ

    еще предложений: 1

    12*50м

    58 000
    под заказ

    14*50м

    66 000
    предзаказ

    8*50м

    26 000
    предзаказ

    9*50м

    27 000
    предзаказ

    12*33м

    35 000
    под заказ

    12*50м

    48 000
    предзаказ

    8*50м

    29 000
    предзаказ

    9*50м

    33 000
    предзаказ

    еще предложений: 5

    3*50м

    предзаказ

    6*50м

    предзаказ

    12*50м

    35 800
    предзаказ

    3*50м

    под заказ

    6*50м

    под заказ

    • «
    • 1
    • 2
    • »

    Пленка светостабилизированная для теплиц

    Знаете ли вы, что теплицы из поликарбоната, популярные у садоводов Сибири, НЕ пропускают солнечные лучи, необходимые растению? Поэтому опытные фермеры предпочитают поликарбонату более экономичную и в то же время эффективную светостабилизированную пленку.

    С помощью тепличной конструкции «будки» с натянутой на нее пленкой, способной пропускать лучи, они:

    • Тратят меньше денег на теплицу – «будка» в тандеме с пленкой стоит до 4 раз дешевле поликарбоната.
    • Легко собираемые, легко перемещаемые, но эффективные конструкции, которые охватывают весь сад и даже всю плантацию.
    • Получайте более высокий и ранний урожай в любых климатических условиях.

    Светостабилизирующую пленку отличного качества, а также все необходимое оборудование и аксессуары для теплицы вы можете купить в Питомнике ВАСХНИЛ.

    Наши агротехнологи помогут определиться с материалом, метражом, научат сборке и установке конструкции, порекомендуют дополнительное оборудование и аксессуары для получения высокого урожая в тепличных условиях.

    Оценка воздействия облучения ПЭТ-пленки быстрыми тяжелыми ионами с использованием спектров пропускания без помех в ультрафиолетовом и видимом диапазонах

    . 2021 22 января; 13 (3): 358.

    doi: 10.3390/polym13030358.

    Адиль З Тулеушев
    1
    , Фиона Э. Харрисон
    2
    , Артем Л Козловский
    2

    3
    , Максим В Здоровец
    2

    3

    4

    Принадлежности

    • 1 Лаборатория ядерных реакций им. Флерова, Объединенный институт ядерных исследований, 141980 Дубна, Московская область, Россия.
    • 2 Лаборатория инженерного профиля, Л.Н. Гумилева, г. Нур-Султан 010008, Казахстан.
    • 3 Лаборатория физики твердого тела, Институт ядерной физики, Алматы 050032, Казахстан.
    • 4 Кафедра интеллектуальных информационных технологий, Уральский федеральный университет, 620075 Екатеринбург, Россия.
    • PMID:

      33499294

    • PMCID:

      PMC7865291

    • DOI:

      10.3390/полим13030358

    Бесплатная статья ЧВК

    Адиль З Тулеушев и др.

    Полимеры (Базель).

    .

    Бесплатная статья ЧВК

    . 2021 22 января; 13 (3): 358.

    doi: 10.3390/polym13030358.

    Авторы

    Адиль З Тулеушев
    1
    , Фиона Э. Харрисон
    2
    , Артем Л Козловский
    2

    3
    , Максим В Здоровец
    2

    3

    4

    Принадлежности

    • 1 Лаборатория ядерных реакций им. Флерова, Объединенный институт ядерных исследований, 141980 Дубна, Московская область, Россия.
    • 2 Лаборатория инженерного профиля, Л.Н. Гумилева, г. Нур-Султан 010008, Казахстан.
    • 3 Лаборатория физики твердого тела, Институт ядерной физики, Алматы 050032, Казахстан.
    • 4 Кафедра интеллектуальных информационных технологий, Уральский федеральный университет, 620075 Екатеринбург, Россия.
    • PMID:

      33499294

    • PMCID:

      PMC7865291

    • DOI:

      10.3390/полим13030358

    Абстрактный

    В данной работе представлены результаты исследования пленок полиэтилентерефталата (ПЭТФ), облученных ионами Ar и Kr как при нормальной ориентации, так и под углом 40° к нормали. Обычное облучение проводили с использованием Ar 8+ и Kr 15+ с энергией 1,75 МэВ/а.е. и флюенсами в диапазоне (2-500) × 10 10 см -2 для ионов Ar 8+ и (1,6 — 6. 5) × 10 10 см -2 для ионов Kr 15+ . Для наклонного облучения использовались ионы Kr с энергией 1,2 МэВ/а.е. и зарядами 13 + , 14 + и 15 + . Для каждого значения заряда иона Kr использовали три значения плотности потока энергии: 5 × 10 10 , 1 × 10 11 и 2,5 × 10 11 см -2 . Хорошо известно, что облучение ПЭТ-пленок быстрыми тяжелыми ионами приводит к сдвигу края поглощения спектров пропускания в УФ-видимой области в красную область. Экспериментальные спектры пропускания демонстрируют хорошо выраженные интерференционные полосы, которые затемняют основную характеристику пропускания. Используя существующую методику для получения кривых пропускания без помех T α (λ) как для исходных, так и для облученных образцов ПЭТ-пленки, мы обнаружили, что S, полное радиационно-индуцированное поглощение света ПЭТ-пленкой пропорционально логарифму плотности потока F . В дополнение к этой зависимости от облучающего флюенса мы также обнаружили, что заряд облучающего иона оказывает существенное влияние на положение края поглощения в УФ-видимых спектрах. Это дает экспериментально независимые доказательства, подтверждающие наши предыдущие результаты, показывающие, что ионный заряд влияет на состояние после облучения ПЭТ-пленок. Мы представляем физическую интерпретацию наблюдаемого красного смещения края поглощения в облученных ПЭТ-пленках как результат роста протяженных сопряженных систем путем образования межмолекулярных спиральных структур. Наши исследования стабильности эффектов облучения в ПЭТ-пленках показывают, что сравнение спектров пропускания в УФ-видимой области до и после отжига может дать информацию о структуре глубоких ловушек в ПЭТФ.


    Ключевые слова:

    расширенные сопряженные системы; кривые передачи без помех; поглощение света, индуцированное ионным облучением; полиэтилентерефталат; красное смещение; спирализация; Структура глубоких ловушек в ПЭТ-пленке.

    Заявление о конфликте интересов

    Авторы заявляют об отсутствии конфликта интересов.

    Цифры

    Рисунок 1

    ( a ) Схема…

    Рисунок 1

    ( a ) Раскладка рулонов пленки для облучения; ( б ) Скриншоты…


    фигура 1

    ( a ) Раскладка рулонов пленки для облучения; ( b ) Скриншоты Траектории ионов снарядов SRIM через полиэтилентерефталатную (ПЭТ) пленку; ( c ) Изображение, полученное с помощью сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), образца калиброванной ПЭТ-пленки после химического травления.

    Рисунок 1

    ( a ) Схема…

    Рисунок 1

    ( a ) Раскладка рулонов пленки для облучения; ( б ) Скриншоты…


    фигура 1

    ( a ) Раскладка рулонов пленки для облучения; ( b ) Скриншоты Траектории ионов снарядов SRIM через полиэтилентерефталатную (ПЭТ) пленку; ( c ) Изображение, полученное с помощью сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), образца калиброванной ПЭТ-пленки после химического травления.

    Рисунок 2

    УФ-видимая спектро-интерферограмма ПЭТ…

    Рисунок 2

    Спектро-интерферограммы УФ-видимой пленки ПЭТФ до и после нормального воздействия различных…


    фигура 2

    УФ-видимые спектро-интерферограммы пленок ПЭТ до и после нормального воздействия различных доз облучения для: ( a ) Ar 8+ ионов; и ( b ) Kr 15+ ионы.

    Рисунок 3

    Видимость интерференционных полос для…

    Рисунок 3

    Видимость интерференционных полос для спектро-интерферограмм, показанных на рисунке 2 для: (…


    Рисунок 3

    Видимость интерференционных полос на спектро-интерферограммах, показанных на рис. 2, для: ( a ) Ar 8+ ионов; и ( b ) Kr 15+ ионы.

    Рисунок 4

    Кривые передачи без помех T α…

    Рисунок 4

    Кривые пропускания без помех T α ( λ ) облученных ПЭТ-пленок…


    Рисунок 4

    Кривые пропускания без помех T α ( λ ) облученных ПЭТ пленок, полученные из рисунка 2 для: ( a ) ионов Ar 8+ ; и ( b ) Kr 15+ ионы.

    Рисунок 5

    Радиационное поглощение ПЭТ…

    Рисунок 5

    Радиационно-индуцированное поглощение ПЭТ-пленок, полученное из рисунка 4 для: ( a…


    Рисунок 5

    Радиационно-индуцированное поглощение пленок ПЭТ, полученное из рисунка 4, для: ( a ) ионов Ar 8+ ; и ( b ) Kr 15+ ионы.

    Рисунок 6

    Отношение индуцированной суммы…

    Рисунок 6

    Отношение индуцированного полного поглощения света S к log F , рассчитанное…


    Рисунок 6

    Отношение индуцированного полного поглощения света S к log F , рассчитанное по рис. 5 для ПЭТ-пленок, облученных при нормальном падении ионами Ar 8+ и Kr 15+ .

    Рисунок 7

    Отношение индуцированного общего света…

    Рисунок 7

    Отношение индуцированного полного поглощения света S к log F для ПЭТ-пленок…


    Рисунок 7

    Отношение индуцированного полного поглощения света S к log F для пленок ПЭТ, облученных Kr 9 под углом 40°0189 13+14+15+ ионов с энергией 1,2 МэВ/а.е.

    Рисунок 8

    График, суммирующий результаты в…

    Рисунок 8

    График, обобщающий результаты на рисунке 7, показывающий зависимость S от…


    Рисунок 8

    График, обобщающий результаты на рисунке 7, показывающий зависимость S как на флюенс, так и на величину ионного заряда для ПЭТФ, облученного под углом 40° ионами Kr.

    Рисунок 9

    Разностный спектр передачи до и…

    Рисунок 9

    Разностный спектр пропускания до и после отжига в течение 160 часов при температуре…


    Рисунок 9

    Разностный спектр пропускания до и после отжига в течение 160 часов при температуре 75 °C для ПЭТ-пленки, облученной под углом 40° ионами Kr 13+ с энергией 1,2 МэВ/а.е. и флюенсом 5 × 10 10 см −2 .

    Рисунок 10

    Рентгеновские дифрактограммы в геометрии…

    Рисунок 10

    Рентгеновские дифрактограммы в геометрии φ = 0–2 π ПЭТ…


    Рисунок 10

    Рентгеновские дифрактограммы в геометрии φ = 0–2 π образца ПЭТ с рис. 9: ( a ) после облучения; и ( b ) после 500 ч отжига при температуре 75 °С.

    Рисунок 10

    Рентгеновские дифрактограммы в геометрии…

    Рисунок 10

    Рентгеновские дифрактограммы в геометрии φ = 0–2 π ПЭТ…


    Рисунок 10

    Рентгеновские дифрактограммы в геометрии φ = 0–2 π образца ПЭТ с рис. 9: ( a ) после облучения; и ( b ) после 500 ч отжига при температуре 75 °С.

    Рисунок 11

    Производные кривой пропускания УФ-видимого излучения dT…

    Рисунок 11

    Производные кривой пропускания УФ-видимого излучения dT α ( λ )/ получены из…


    Рисунок 11

    Производные кривой пропускания ультрафиолетовой пропуска 8+ ионов; и ( b ) Kr 15+ ионы.

    См. это изображение и информацию об авторских правах в PMC

    Похожие статьи

    • Правило Урбаха для смещенного в красную область края поглощения ПЭТ-пленок, облученных быстрыми тяжелыми ионами.

      Тулеушев А.З., Харрисон Ф.Е., Козловский А.Л., Здоровец М.В.
      Тулеушев А.З. и соавт.
      Полимеры (Базель). 2022 25 февраля; 14 (5): 923. doi: 10.3390/polym14050923.
      Полимеры (Базель). 2022.

      PMID: 35267746
      Бесплатная статья ЧВК.

    • Влияние облучения тяжелыми ионами Ag с энергией 120 МэВ, зависящего от флюенса, на изменения структурных, электронных и оптических свойств AgInSe 2 тонкие нанокристаллические пленки для оптоэлектроники.

      Панда Р., Хан С.А., Сингх У.П., Найк Р., Мишра Северная Каролина.
      Панда Р. и др.
      RSC Adv. 2021 30 июля; 11 (42): 26218-26227. doi: 10.1039/d1ra03409j. Электронная коллекция 2021 27 июля.
      RSC Adv. 2021.

      PMID: 35479461
      Бесплатная статья ЧВК.

    • Облучение быстрыми тяжелыми ионами вызывало усиление антиоксидантной активности и биосовместимости полианилиновых нановолокон.

      Кумар А., Банерджи С., Сайкия Дж. П., Конвар Б. К.
      Кумар А. и др.
      Нанотехнологии. 2010 30 апреля; 21(17):175102. дои: 10.1088/0957-4484/21/17/175102. Epub 2010 1 апр.
      Нанотехнологии. 2010.

      PMID: 20357408

    • Влияние быстрых тяжелых ионов в нанокристаллических пленках Ni-Al исследовано методом рентгеновской абсорбционной спектроскопии.

      Асокан К., Цай Х.М., Бао К.В., Чиу Дж.В., Понг В.Ф., Соня Г. , Ананд Т.Дж.
      Асокан К. и др.
      Spectrochim Acta A Mol Biomol Spectrosc. 2008 г., июль; 70 (2): 454-7. doi: 10.1016/j.saa.2007.11.031. Epub 2008, 10 января.
      Spectrochim Acta A Mol Biomol Spectrosc. 2008.

      PMID: 18280782

    • Быстрая реактивность, вызванная тяжелыми ионами, и модификации поверхности в тонких пленках индия.

      Афтаб З., Сулания И., Кандасами А., Наир Л.
      Афтаб З. и др.
      АСУ Омега. 2022 6 сентября; 7(36):31869-31876. doi: 10.1021/acsomega.2c02653. Электронная коллекция 2022 13 сентября.
      АСУ Омега. 2022.

      PMID: 36120065
      Бесплатная статья ЧВК.

    Посмотреть все похожие статьи

    Цитируется

    • Применение методов УФ-видимой оптической спектроскопии и рентгеновской дифракции для описания действия альфа-излучающих радионуклидов (радона) при их регистрации твердотельными пленочными детекторами.

      Еримбетова Д, Козловский А, Степаненко В, Жумадилов К.
      Еримбетова Д, и соавт.
      Полимеры (Базель). 2022 4 июля; 14 (13): 2731. doi: 10.3390/polym14132731.
      Полимеры (Базель). 2022.

      PMID: 35808776
      Бесплатная статья ЧВК.

    • Правило Урбаха для смещенного в красную область края поглощения ПЭТ-пленок, облученных быстрыми тяжелыми ионами.

      Тулеушев А.З., Харрисон Ф.Е., Козловский А.Л., Здоровец М.В.
      Тулеушев А.З. и соавт.
      Полимеры (Базель). 2022 25 февраля; 14 (5): 923. doi: 10.3390/polym14050923.
      Полимеры (Базель). 2022.

      PMID: 35267746
      Бесплатная статья ЧВК.

    • Влияние имплантации ионов Cu на структурные, электронные, оптические и диэлектрические свойства полиметилметакрилата (ПММА).

      Ахтар А. Н., Муртаза Г., Шафик М.А., Хайдырах А.С.
      Ахтар А.Н. и соавт.
      Полимеры (Базель). 2021 22 марта; 13 (6): 973. doi: 10.3390/polym13060973.
      Полимеры (Базель). 2021.

      PMID: 33810029
      Бесплатная статья ЧВК.

    • Оптические свойства и электропроводность ПВА-Н 3 PO 4 (поливиниловый спирт-фосфорная кислота) Пленка, облученная гамма-лучами.

      Сусилавати С., Прайоги С., Ариф М.Ф., Исмаил Н.М., Билад М.Р., Асьяри М.
      Susilawati S, et al.
      Полимеры (Базель). 2021 28 марта; 13 (7): 1065. doi: 10.3390/polym13071065.
      Полимеры (Базель). 2021.

      PMID: 33800592
      Бесплатная статья ЧВК.

    использованная литература

      1. Апель П.Ю. Получение функциональных микро- и нанопористых материалов из полимеров, модифицированных быстрыми тяжелыми ионами. Радиат. физ. хим. 2019;159:25–34. doi: 10.1016/j.radphyschem.2019.01.009.

        DOI

      1. Лю Ф., Ван М., Ван С., Ван П., Шен В., Дин С., Ван Ю. Изготовление и применение нанопористых полимерных ионно-трековых мембран. Нанотехнологии. 2018;30:052001. doi: 10.1088/1361-6528/aaed6d.

        DOI

        пабмед

      1. Вэнь К., Ян Д., Лю Ф. , Ван М., Лин Ю., Ван П., Клут П., Шаурис Д., Траутманн К., Апель П.Ю. и др. Высокоселективный ионный транспорт через субнанометровые поры в полимерных пленках. Доп. Функц. Матер. 2016;26:5796–5803. doi: 10.1002/adfm.201601689.

        DOI

      1. Ван П., Ван М., Лю Ф., Дин С., Ван С., Ду Г., Лю Дж., Апель П.Ю., Клут П., Траутманн С. и др. Сверхбыстрое ионное просеивание с использованием нанопористых полимерных мембран. Нац. коммун. 2018; 9:1–9. doi: 10.1038/s41467-018-02941-6.

        DOI

        ЧВК

        пабмед

      1. Ван М.