Содержание
Плоттер для изготовления образцов наклеек из ПВХ-пленки из Китая Производитель, мануфактура, фабрика и поставщик на ECVV.com
| Место происхождения: | Гуандун в Китае |
|---|---|
| Детали упаковки: | Деревянный ящик |
Краткие сведения
- Заявление:
Лазерная резка - Предоставленное послепродажное обслуживание:
Инженеры доступны для обслуживания техники за границей - Сертификация:
КЭ, СГС - Номер модели:
ГД - Имя бренда:
АОКЕ - Программное обеспечение для управления:
Бесплатная управляющая программа AOKE - ЧПУ или нет:
Да - Скорость резки:
быстро - Толщина резки:
2 мм - Применимый материал:
Бумага, пластик, картонная коробка, ПВХ, ПЭТ и т.
д., - Тип лазера:
режущее лезвие - Условие:
Новый - машина для резки образцов пластиковой доски:
машина для резки образцов с гофрированными канавками
д.,Технические характеристики
слоновая кость картон картон бумага прозрачный пластиковый ПВХ резак для коробок.
1. В основном для карточной бумаги и тонкой пластиковой коробки недорогие образцы для резки
2.
плоттер для высечки пресс-форм для высечки
3. Оснащен ручкой, инструментом для биговки, специальным ножом
.
4. Поддержка полупоцелуя через всю резку, биговку / оценку
5.cut≤2 мм 0,1 дюйма картонная бумага цвета слоновой кости прозрачный пластик ПВХ
6. Коробка из гофрированного картона с вырезом E, F
6. размер машины 900 мм * 600 мм 1200 мм * 900 мм 1500 мм * 900 мм 1500 мм * 1200 мм 1800 мм * 1200 мм
Методы измерения для пленок и пластмасс: SHIMADZU (Shimadzu Corporation)
Добавить закладку
■ Введение
Так называемые пластмассы доступны в различных формах, включая порошки, пленки и листы. Из них можно формовать изделия, а формованные изделия могут содержать множество типов полимерных материалов.
Доступны различные методы инфракрасной спектроскопии FTIR для измерения пластмасс в зависимости от их формы и положения измерения. Ниже представлены эти методы измерения.
■ Измерения методами передачи
Рис.
1 Спектр пропускания полистирольной пленки
Измерения пропускания можно проводить на однослойной пленке толщиной до 40–50 мкм или на пленке эквивалентной толщины, полученной пленочным методом, удерживая образец в подходящем держателе, таком как плотная бумага. Эти измерения чрезвычайно просты, но часто на них могут влиять интерференционные полосы, как показано на рис. 1. Такие интерференционные полосы можно использовать для измерения толщины пленки, но они затрудняют использование спектра для количественного определения или квалификации. Эти эффекты можно уменьшить, зачистив поверхность пленки наждачной бумагой.
Пленочный метод включает растворение образца в растворителе, тонкое нанесение раствора на стеклянную или металлическую пластину и выпаривание растворителя для создания пленки образца.
■ Метод нарушенного полного отражения (НПВО)
Спектроскопия НПВО является эффективным методом измерения образцов толстой пленки, пластика или резины, не пропускающих инфракрасный свет.
Для НПВО-спектроскопии образец плотно прижимается к призме. При полном внутреннем отражении инфракрасного света в призме небольшое количество инфракрасного света попадает в образец, что позволяет получить инфракрасный спектр. Поскольку глубина проникновения составляет всего несколько микрон, этот метод позволяет получать информацию только с поверхности образца. Таким образом, он может напрямую измерять образцы толстой пленки или пластика, которые не пропускают инфракрасный свет. Кроме того, глубину проникновения можно изменить, изменив угол падения инфракрасного света и тип призмы для получения информации об образцах, которые изменяются в направлении глубины. Кроме того, в сочетании с разностными спектрами этот метод позволяет получать спектры для разных внутренних слоев многослойной пленки.
■ Метод зеркального отражения
Если поверхность образца относительно плоская и гладкая, для получения инфракрасного спектра можно использовать метод зеркального отражения. Если используется аксессуар для измерения зеркального отражения SRM-8000, образец просто помещается измеряемой поверхностью вниз.
Этот метод прост и не требует усилий, чтобы прижать образец к призме, как при спектроскопии НПВО.
Однако, если этот метод используется для измерения образца, такого как пластиковый лист, коэффициент отражения составляет всего несколько процентов, и возникают пиковые искажения, как показано на рис. 2. Такие пиковые искажения являются результатом аномальной дисперсии показателя преломления и использовать такие спектры как качественно, так и количественно крайне сложно. По этой причине преобразование Крамерса-Кронига необходимо применять к искаженному спектру, чтобы получить нормальный спектр поглощения. На рис. 3 показан спектр на рис. 2 после преобразования Крамерса-Кронига.
Рис. 2 Спектр зеркального отражения для полиметилметакрилата (ПММА)
Рис. 3 Спектр после преобразования Крамерса-Кронига
■ Измерения с помощью инфракрасного микроскопа
Инфракрасный микроскоп эффективен для измерения инфракрасного спектра каждого слоя многослойной пленки.
Если инфракрасный микроскоп не используется, необходимо разделить отдельные слои и провести спектроскопию пропускания для каждого слоя.
Кроме того, если отдельные слои склеены клеем, клей необходимо полностью удалить.
И наоборот, поскольку инфракрасный микроскоп может измерять мельчайшие участки размером примерно 10 мкм, многослойную пленку можно тонко разрезать на поперечные срезы с помощью микротома и измерять отдельные слои.
■ Пробоотборник SiC
Описанные выше методы предполагают, что размер образца подходит для измерения или что образец можно разрезать до размера, подходящего для измерения. Однако не все образцы соответствуют этим условиям: например, пластиковый бак в эксплуатации. Получение инфракрасного спектра для такого крупного формованного изделия требует определенных усилий для отбора проб и предварительной обработки. Также в некоторых случаях невозможно вырезать образец. Пробоотборник SiC является чрезвычайно эффективным и удобным методом отбора проб в таких ситуациях. Пробоотборник SiC соскребает образец наждачной бумагой из карбида кремния (SiC), прикрепленной к держателю. Проба собирается прямо на наждачной бумаге.
